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美国Trio-Tech 半导体高加速压力测试系统，高加速应力测试（HAST）结合了高温、高湿度、高压和时间，以测量元件的可靠性，无论是否具有电偏置。HAST测试以受控的方式加速了更传统测试的压力。它本质上是一种腐蚀失效测试。腐蚀型故障加速，在较短的时间内发现包装密封，材料和接头等缺陷。偏置高加速压力测试（BHAST）利用与HAST测试相同的变量（高压，高温和时间），但增加了电压偏差。BHAST测试